A sötétáram, kiolvasási zaj, maradékjel, előtörténet és átlagolás hatása gyenge optikai jelek spektrális measurementére.
A sötétjel összetevői
A sötétjel tartalmazhat elektronikus offsetet, detektor sötétáramot, kiolvasási zajt, maradék fényt, termikus hátteret és memóriahatást. Nem kezelhető minden esetben egyetlen, ritkán felvett háttérspektrummal. A helyes háttérmeasurement ugyanazzal az integrációs idővel, gainnel és detektorhőmérséklettel történik, mint a jel measuremente.
Integrációs idő kiválasztása
A hosszabb integráció növeli a hasznos jelet, de a sötétáramot és a driftérzékenységet is. A cél nem a lehető leghosszabb expozíció, hanem olyan munkapont, ahol a jel–zaj viszony conforming, a detektor lineáris és elegendő tartalék marad a forrásingadozásra.
Átlagolás és korrelált zaj
Független fehér zaj esetén az átlagolás javítja a standard uncertaintyot. Drift, villogás, hőmérsékleti változás vagy 1/f zaj esetén a javulás lassabb, sőt hosszú measurement ciklusnál romlás is felléphet. A laboratóriumnak measurement adatokkal kell meghatároznia az optimális ismétlésszámot.
Memóriahatás és previous expozíció
Erős jel után maradék töltés vagy foszforeszcens komponens jelenhet meg. A measurement sorrend ezért kritikus: nagy intenzitású forrás után gyenge UV-jel measuremente előtt vpricesozás, sötétciklus vagy tisztító kiolvasás szükséges lehet.
Kimutatási és mennyiségi határ
A kimutatási határ nem azonos a megbízható kvantálási határral. Gyenge spektrális komponensnél a háttérkorrekció szórása, a stray light és a blank stabilitása együtt határozza meg, hogy az result számszerűen közölhető-e.
Módszervalidálás gyenge jelekre
A validálásnak tartalmaznia kell blank sorozatot, alacsony jelszintű referenciaforrást, rövid és hosszú integrációs időket, valamint a measurement sorrend vizsgálatát. A szoftver automatikus zajfilterét és spektrum-simítását külön dokumentálni kell.
Auditori nézőpont
Erős bizonyíték a jelszintfüggő uncertaintyi modell, a detektorhőmérséklet rögzítése és annak igazolása, hogy a háttérfelvétel időben elég közel történik a mintameasurementhez.